常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括：
1. X射線熒光光譜儀：通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對礦石樣品進(jìn)行離子化和分析，以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。

分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無輻射性同位素，現(xiàn)場分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測試。

·使用了的和多用途的x射線資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來進(jìn)行定量分析，而不需要進(jìn)行的校正?；緟?shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實(shí)驗(yàn)校正法：利用“校正曲線”進(jìn)行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進(jìn)行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進(jìn)行對比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲(chǔ)的試驗(yàn)結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗(yàn)。
·資料安全性：資料以二進(jìn)位格式存儲(chǔ)于設(shè)備中，以資料的完整性。