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：使用NIlabview軟硬件提高了固件測試平臺吞吐量、覆蓋范圍和可靠性
概述：使用NI LabVIEW軟件與NI TestStand構(gòu)建一個靈活的模塊化自動化測試解決方案，可根據(jù)不同需求、通信總線和協(xié)議測試多個PMIC，而且非計算機背景的工程師也能輕松使用。

流程自動化
大多數(shù)固件測試功能包括使用固件讀/寫設(shè)備進(jìn)行充電/放電仿真、固件參數(shù)檢測以及溫度和通信仿真。
一般來說，電源管理設(shè)備包含模擬組件(模擬前端)和可做決策的數(shù)字組件(微處理器)。 這些組件的結(jié)合可用于實現(xiàn)多種功能，如保護(hù)功能、充電管理、與主機設(shè)備進(jìn)行通信和電池壽命預(yù)測。 另外電源管理設(shè)備也遵守多種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，如智能電池系統(tǒng)(SBS)和日本電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)協(xié)(JEITA)標(biāo)準(zhǔn)。 因此我們開發(fā)一個系統(tǒng)來測試所有這些固件功能。
根據(jù)客戶預(yù)算、預(yù)測演算法的復(fù)雜性、功能需求、終應(yīng)用的不同，有多種PMIC可供選擇。 由于不斷變化的需求、復(fù)雜性以及電源管理不同IC選項之間的功能差異，開發(fā)內(nèi)部使用的軟件與序列套件挑戰(zhàn)性。 由于以統(tǒng)一的軟件與序列套件支持所有選項，我們決定使用LabVIEW與NI TestStand來開發(fā)解決方案。 借助NI軟件的靈活性、功能、模塊化特性，我們輕松完成其他軟件工具難以解決的問題。

使用PXI、LabVIEW 與DIAdem，為類比轉(zhuǎn)數(shù)位轉(zhuǎn)換器進(jìn)行自動化特性描述
概述：建立以PXI元件架構(gòu)的量測系統(tǒng)，可以執(zhí)行各種量測，包含積分非線性(INL)、微分非線性(DNL)、訊號-雜訊-失真比(SINAD)，為奧地利微電子公司的標(biāo)準(zhǔn)線性(SLI)產(chǎn)品線的ADC進(jìn)行特性描述。

ADC 的特性描述
我們的ADC 標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品組合內(nèi)含10 位元與12 位元的轉(zhuǎn)換器，能以極低的耗電量與高400 kS/s 的速度進(jìn)行取樣。

圖1：ADC 輸入與輸出訊號的一般描述
每個產(chǎn)品都使用串聯(lián)或并聯(lián)的方式與微控制器進(jìn)行數(shù)位連結(jié)。我們的ADC 擁有單端點(Single-ended) 與真差動(True-differential) 產(chǎn)品，多可達(dá)8 通道。

圖2：ADC一般會要求 I2C 這種簡單的控制匯流排，擁有各種的取樣率與電流率。


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：使用NI現(xiàn)成技術(shù)的主要優(yōu)勢
以PXI與LabVIEW所構(gòu)建的MEME生產(chǎn)測試系統(tǒng)，已大幅降低了設(shè)備成本、體積、重量與耗電量。
節(jié)約成本：
與PXI新系統(tǒng)的總成本相比，先前ATE系統(tǒng)的基本設(shè)置成本即已超出了許多。 PXI系統(tǒng)所占據(jù)的空間也很少。 事實上，整個系統(tǒng)的精巧體積，僅需常見的手推車即可搬運。
減少所占地面積：
基于PXI的ATE新系統(tǒng)，可大幅節(jié)省廠房空間。 系統(tǒng)體積小到我們可以用手推車搬運，可省下更多廠房空間。
更小、更簡單易用的系統(tǒng)：