芯片檢測(cè)：工業(yè)CT可以用于檢測(cè)芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，包括封裝質(zhì)量、晶圓質(zhì)量等。通過(guò)獲取這些信息，可以檢測(cè)出芯片中的故障和缺陷，如短路、斷路等，從而芯片的功能和可靠性。

失效分析：當(dāng)醫(yī)療器械出現(xiàn)失效或故障時(shí)，工業(yè)CT可以用于失效分析，通過(guò)獲取產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料信息，幫助找出失效或故障的原因。

石油勘探和開采：工業(yè)CT可以用于石油勘探和開采過(guò)程中的巖心掃描和成像，幫助地質(zhì)學(xué)家和工程師更好地了解地下巖層的分布、結(jié)構(gòu)和組成，為石油勘探和開采提供重要的數(shù)據(jù)支持。