探測(cè)器SDD元素范圍從Na~U

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長(zhǎng)色散型XRF（WDXRF）：通過(guò)衍射晶體將熒光X射線按波長(zhǎng)分開(kāi)，分辨率高，但儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過(guò)探測(cè)器直接測(cè)量熒光X射線的能量，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質(zhì)、冶金、環(huán)境、考古、材料科學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

天瑞儀器X射線熒光光譜儀EDX3600H優(yōu)勢(shì)明顯：
專為銅合金設(shè)計(jì)：針對(duì)銅合金材料的特性進(jìn)行優(yōu)化，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
：在的同時(shí)，提供更具競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格。
完善的售后服務(wù)：提供的售前、售中和售后服務(wù)，解決用戶的后顧之憂。

黃銅分析儀EDX3600H材質(zhì)分析X熒光光譜儀的主要技術(shù)參數(shù)：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測(cè)器： SDD 探測(cè)器
X 光管：微型 X 光管
測(cè)量時(shí)間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg