我公司秉承質(zhì)量，顧客至上的原則，竭誠(chéng)為國(guó)內(nèi)外廣大客戶朋友提供*的服務(wù) 希望通過我們的真誠(chéng)與努力能夠成為您長(zhǎng)期的合作伙伴，共創(chuàng)輝煌！用戶的需求在時(shí)間作出反應(yīng)，為用戶提供*產(chǎn)品及的服務(wù)。
企業(yè)精神
精誠(chéng)合作 務(wù)實(shí)創(chuàng)新 開拓進(jìn)取
免費(fèi)安裝
提供化學(xué)分析方法
免費(fèi)調(diào)試
提供分析工藝流程
免費(fèi)運(yùn)輸
損耗由本公司負(fù)責(zé)
免費(fèi)培訓(xùn)
幫助籌建化驗(yàn)室
儀器實(shí)行終身服務(wù) 實(shí)行二十四小時(shí)響應(yīng)

分析性能，使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

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